电子元器件百科
抗硫护航,稳定可靠 —— 防硫化贴片电阻产品深度解析
21
2025-11
抗硫护航,稳定可靠 —— 防硫化贴片电阻产品深度解析
在工业控制、汽车电子、户外通信设备等复杂应用场景中,含硫环境对电子元件的侵蚀一直是影响设备稳定性与使用寿命的关键难题。普通贴片电阻长期处于含硫氛围中,极易出现引脚硫化、阻值漂移甚至功能失效等问题,给设备运维带来巨大挑战。而防硫化贴片电阻的出现,为这一痛点提供了高效解决方案,凭借卓越的抗硫性能与全面的产品特性,成为恶劣环境下电子设备的 “可靠卫士”。
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车规级精密电流检测电阻:工业与电源领域的 “电流眼睛”
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2025-11
车规级精密电流检测电阻:工业与电源领域的 “电流眼睛”
在电子电路尤其是工业控制、电源管理领域,电流检测的精度与可靠性直接影响系统性能。车规系列精密电流检测电阻凭借超低阻值、优异温度特性及多场景适配能力,成为电流检测、过流保护等环节的核心元器件。
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高压贴片电阻:赋能高压电路的精密 “卫士”
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2025-11
高压贴片电阻:赋能高压电路的精密 “卫士”
高压贴片电阻通过特殊的结构设计(如多段分压式布局),将高压分散承受,相比普通电阻在相同空间内实现了数倍的耐压提升,这也是其能在高压场景中替代多颗普通电阻、节约空间的核心逻辑。 在电子设备向 “高电压、小型化、高可靠性” 发展的趋势下,厚膜高压 HV 贴片电阻凭借其独特的性能优势,正成为高压电路系统中不可或缺的 “精密卫士”,为消费电子、汽车电子、工业电力等领域的高压应用保驾护航。
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MLCC机械裂问题的成因与系统解决方案
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2025-11
MLCC机械裂问题的成因与系统解决方案
多层片式陶瓷电容器(MLCC)的陶瓷体本质上属于脆性材料,这一特性使其对机械应力极为敏感。在实际应用中,当装配有MLCC的PCB板发生弯曲时,电容器会直接承受由此传递的机械应力冲击。一旦该应力超过陶瓷体本身的机械强度极限,瓷体表面或内部就会产生弯曲裂纹。需要特别注意的是,这类由弯曲引发的裂纹通常仅出现在MLCC焊接之后——焊接固定使元件与PCB板形成刚性连接,弯曲时二者的形变协同性增强,应力便会集中作用于陶瓷体,而未焊接的元件可随PCB板轻微位移,反而不易产生裂纹。
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电流检测电阻应用中的热电势(EMF)是什么?
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2025-11
电流检测电阻应用中的热电势(EMF)是什么?
电势干扰并非“不可解决”的难题,而是“需要系统性应对”的工程问题。在高精度电流检测系统设计中,应遵循“优先硬件优化,辅以软件校准”的原则:首先通过选用锰铜/康铜合金电阻降低热电势系数,再通过PCB对称布局和散热设计最小化温差,最后通过电路补偿和软件校准抵消残余干扰。
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电池化成设备上的贴片电阻应该怎么选型。
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2025-11
电池化成设备上的贴片电阻应该怎么选型。
贴片电阻是电池化成设备的核心基础元器件,广泛分布于电流检测、电压采样、均衡控制、电路保护等关键环节,其性能稳定性直接影响化成过程的精度、安全性与电芯一致性。
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精密低阻与低容检测操作方法和指引
11
2025-11
精密低阻与低容检测操作方法和指引
本规范明确了低阻与低容检测的设备标准、操作流程及特殊注意事项,核心在于通过标准化设备选型、精准点位选择和匹配性校准,保障检测结果的准确性与一致性。 实际检测时,需结合产品阻值 / 容量范围、公差精度及对应厂家标准灵活执行,避免因操作偏差导致产品误判或应用兼容问题。建议将本规范作为现场检测的执行依据,定期核查设备状态与操作合规性,确保检测工作规范有序开展。27年电阻电容服务商,如您有选型需求,可直接联系我们,我们可以免费提供选型建议,以及电阻电容失效分析。
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一文读懂车规电容与普通电容的不同:环境适应性 / 认证标准差异。
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2025-11
一文读懂车规电容与普通电容的不同:环境适应性 / 认证标准差异。
车规电容与普通电容的核心差异源于应用场景的本质区别:车规电容是针对汽车极端工况、安全优先原则设计的高可靠元器件,在环境适应性、性能指标、认证要求上均遵循严苛标准;普通电容则以通用电子设备的常规需求为核心,注重性价比与基础功能适配。因此,在选型时需根据具体应用场景(是否车载、是否涉及极端工况)和性能需求精准匹配,避免因选型不当导致设备故障或安全隐患。27年电阻电容服务商,如您有选型需求,可直接联系我们,我们可以免费提供选型建议,以及电阻电容失效分析。
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抗浪涌贴片电阻和普通电阻的区别
07
2025-11
抗浪涌贴片电阻和普通电阻的区别
在电子设计中,浪涌主要指的是电源(只是主要指电源)刚开通的那一瞬息产生的强力脉冲,由于电路本身的线性有可能高于电源本身的脉冲;或者由于电源或电路中其它部分受到本身或外来尖脉冲干扰叫做浪涌.它很可能使电路在浪涌的一瞬间烧坏,如 PN 结电容击穿,电阻烧断等等.
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硫环境下电阻可靠性提升方案:抗硫化电阻核心技术详解
06
2025-11
硫环境下电阻可靠性提升方案:抗硫化电阻核心技术详解
在电子设备的实际应用中,硫化腐蚀与银迁移是导致普通电阻失效的核心隐患,尤其在含硫、氯、溴等腐蚀性物质或温湿度波动较大的环境中,这一问题更为突出。本文将详细拆解电阻硫化腐蚀与银迁移的发生机理,介绍抗硫化电阻的解决方案、结构优势及应用场景,为电子设备的可靠性设计提供参考。
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